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小型風(fēng)冷式高低溫沖擊試驗箱

簡要描述:小型風(fēng)冷式高低溫沖擊試驗箱是主要做沖擊試驗的,就是一個箱子里面有兩個區(qū)域,一個給預(yù)冷一個給預(yù)熱,等到測試得時間就把預(yù)冷好溫度或預(yù)熱區(qū)的溫度放出來,他的是功能高溫轉(zhuǎn)至低溫之間可以在很快時間內(nèi)沖擊完成試驗。

  • 產(chǎn)品型號AP-CJ
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024-11-10
  • 訪  問  量1991

詳細介紹

品牌愛佩科技/A-PKJ價格區(qū)間5萬-10萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,石油,建材,電子

小型風(fēng)冷式高低溫沖擊試驗箱適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器,PCB連接器,F(xiàn)PC,電感器,電子元器件,數(shù)碼產(chǎn)品,太陽能組件,光伏組件,光纖,LCD,PCB,F(xiàn)PC,微電子,電機,汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設(shè)定恒溫或者沖擊試驗。

制冷低溫區(qū)

溫度暴露范圍

0℃/-65℃

預(yù)熱溫度下限

-75℃

溫度波動范圍

≤±0.5℃

溫度降溫時間

-75℃≤60min

加熱高溫區(qū)

溫度暴露范圍

60℃~150℃

預(yù)熱溫度上限

200℃

溫度波動范圍

≤±0.5℃

溫度上升時間

室溫200℃≥45min

性能指標(biāo)

溫度測試范圍可選

A:-40℃~150℃ B:-40℃~150℃C:-65℃~150℃

溫度均勻動

高溫室及低溫室均≤±2℃

樣品區(qū)承重

30kg

30kg

30kg

溫度運行控制系統(tǒng)

主要控制器

//中國臺灣(可選擇)進口LED數(shù)顯(P、I、D +S、S、R.)微電腦集成控制器

精度范圍

設(shè)定浮動度:溫度±0.2℃,指示精度:溫度±0.1℃,分辨率:0.01℃

制冷系統(tǒng)

進口半封閉水冷式壓縮機組或原裝“泰康”/全封閉風(fēng)冷壓縮制冷機組

循環(huán)系統(tǒng)

耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風(fēng)輪

溫度轉(zhuǎn)換時間

從制冷低溫區(qū)到加熱高溫區(qū)或從加熱高溫區(qū)到制冷低溫區(qū)≤10S

溫度恢復(fù)時間

≤5min(恢復(fù)時間與暴露溫差、冷卻水溫、恒溫時間、樣品重量有關(guān))


本設(shè)備滿足:
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫;
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫;
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件;
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件;
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則;
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備。

 

其中風(fēng)冷意指自然冷卻的意思,一般適用于小功率的產(chǎn)品,如果試驗箱使用的環(huán)境溫度較低或長期保持在5-25℃,并且有抽風(fēng)裝置,才能保證設(shè)備在舒適的環(huán)境下工作,延長使用壽命。

用途:

小型風(fēng)冷式高低溫沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具。

 

 

 

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